Perfil medidas

Máquina de medición de coordenadas

El perfil de superficie se define como una medida de la profundidad máxima de pico a valle creada por el impacto del abrasivo contra una superficie durante las operaciones de limpieza por chorro de abrasivo, o por una herramienta eléctrica de tipo impacto. Durante la limpieza con chorro de arena, la masa del abrasivo y la velocidad del movimiento del abrasivo creada por el aire comprimido generan energía cinética (el abrasivo puede alcanzar velocidades de más de 600 millas por hora al salir de la boquilla de chorro). Cuando el abrasivo impacta en la superficie, la corta (abrasivos angulares) o la pela (abrasivos redondos) y crea una serie de picos y valles en la superficie.

La creación de este patrón de picos y valles en la superficie aumenta efectivamente la superficie, proporcionando un anclaje para el sistema de revestimiento. Tanto la estructura como el sistema de revestimiento que la protege se moverán durante el servicio. Este movimiento puede ser causado por la expansión y contracción del sustrato debido a la fluctuación de la temperatura, o a las cargas vivas que se colocan sobre una estructura; por ejemplo, el tráfico que cruza un puente. El perfil de la superficie debe ser compatible con el sistema de revestimiento. Normalmente, cuanto mayor sea el espesor del revestimiento, mayor será la profundidad del perfil superficial. La densidad de los picos (el número de picos por unidad de superficie) también desempeña un papel clave en el mantenimiento de la adhesión del sistema de revestimiento y proporciona una mayor resistencia a la corrosión cuando el sistema de revestimiento se daña durante el servicio.

Sistema de medición óptica

Una gran variedad de productos planos, como tableros (por ejemplo, tableros minerales y de partículas) o láminas (por ejemplo, chapas laminadas, tiras y lingotes de planchas), requieren con frecuencia la medición continua de sus perfiles superficiales directamente en el proceso de fabricación. Los datos obtenidos pueden utilizarse para inspeccionar la calidad, así como para controlar el proceso concreto.

A menudo se utilizan sistemas de medición puntual con trayectorias de medición fijas o sistemas oscilantes. También se utilizan mucho los sensores de medición láser radiométricos o puntuales. Estos sistemas sólo son rentables cuando hay que escanear grandes anchos de medición. Una alternativa son las soluciones con sensores láser de detección de luz en cascada que escanean linealmente.

En función de la anchura de la trayectoria y de la incertidumbre de medición requeridas, estos sistemas de medición de espesores y perfiles se configuran a partir de varios sensores láser de sección de luz lineales inclinados hacia la dirección de transporte del material. Los sensores están calibrados y orientados espacialmente en un sistema de coordenadas común con una referencia fija al objetivo. Mientras el objetivo se mueve a lo largo de la parte inferior del sistema, los datos medidos se capturan a distancias iguales y las secciones transversales completas del perfil se calculan a partir de estos datos en línea y se visualizan. La medición de un solo lado se compara con una medición de referencia o una medición de dos lados para determinar continuamente un perfil vertical o un perfil de espesor.

Óptica cmm

Las distribuciones de temperatura en gases calientes no homogéneos se determinaron a partir de mediciones espectrales infrarrojas en la línea de visión. Se midieron la radiancia y la transmitancia de los productos de combustión de las llamas planas en cada una de varias frecuencias de la banda de CO2 cerca de 4,3 μ. Las mediciones de muestras isotérmicas mostraron cómo la transmitancia del CO2 variaba con la temperatura. Las mediciones de radiancia se realizaron en muestras con perfiles de temperatura no isotérmicos conocidos. Las ecuaciones de radiancia se formularon de manera que pudieran resolverse para el perfil de temperatura de la muestra no isotérmica mediante un procedimiento iterativo, utilizando los datos de transmitancia y radiancia descritos anteriormente. Los perfiles de temperatura obtenidos por este procedimiento concordaban bien con las estructuras térmicas predeterminadas de las muestras.

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Máquina de medición

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Actas Volumen 4782, X-Ray Mirrors, Crystals, and Multilayers II; (2002) https://doi.org/10.1117/12.454816Event: Simposio Internacional sobre Ciencia y Tecnología Óptica, 2002, Seattle, WA, Estados Unidos

La interferometría de puntada, que utiliza interferometría de alta resolución de pequeña apertura y medición de fase, se ha propuesto desde hace tiempo como una técnica de metrología para obtener perfiles tridimensionales de superficies de componentes y sustratos ópticos de gran tamaño.

El objetivo de este trabajo es aplicar este método al caso concreto de los espejos de rayos X de larga incidencia gravitatoria, como los utilizados en las líneas de haz de las instalaciones de radiación de sincrotrón de todo el mundo. Tanto la fabricación como la caracterización de estos espejos se beneficiarían enormemente de esta técnica porque ofrece la posibilidad de proporcionar mediciones con una precisión y resolución mejores que las obtenidas con los perfiladores láser sin contacto existentes, como el perfilador de trazos largos (LTP). Los datos de las mediciones pueden utilizarse como retroalimentación de los procesos de fabricación controlados por ordenador para corregir posibles errores de topografía. Los datos también pueden utilizarse para simular y predecir el rendimiento de los espejos en condiciones realistas.